InGaAs光電探測器原理和介紹

一、InGaAs光電探測器原理

是一種新型的半導體材料，帶隙能量約在0.7~1.7eV之間，適用于近紅外光范圍的探測。基于外部光照射后的物理效應，將光信號轉換為電信號輸出。當外部光照射到探測器的PN結上時，光子將被吸收并轉化為電子-空穴對，電子和空穴將被分別吸引到PN結兩側，在外部電場的作用下形成電流輸出。

二、InGaAs光電探測器制備工藝

制備工藝包括外延生長、芯片制備、器件封裝等環(huán)節(jié)。其中外延生長采用分子束外延(MBE)或金屬有機化學氣相沉積(MOCVD)等技術，按照成分比例將In、Ga、As材料在襯底上進行原子層沉積，生長出InGaAs晶體外延層。芯片制備過程主要是將外延層進行切割、退火、拋光等處理后得到單個InGaAs芯片。最后將芯片進行封裝，連接電線等操作后即可得到完整的InGaAs光電探測器。

三、InGaAs光電探測器性能

具有高靈敏度、高速度、高分辨率等優(yōu)點，能夠探測到0.95~1.7μm波長范圍內(nèi)的信號。其響應速度可達到GHz級別，讀出噪聲低于10nA/√Hz，線性動態(tài)范圍高達100dB以上。對于大部分應用場景而言，InGaAs光電探測器的量子效率已經(jīng)達到了70%以上，且隨著技術的不斷提升。

四、InGaAs光電探測器應用

具有廣泛的應用領域，在通信、顯微鏡、醫(yī)學成像、衛(wèi)星遙感等方面都有著非常重要的地位。在通信領域，主要用于光通信中的光源檢測、光網(wǎng)絡監(jiān)測等方面;在顯微鏡、醫(yī)學成像領域，可以幫助科學家們通過可見光和近紅外光來對樣本進行更加精確的探測;在衛(wèi)星遙感領域，可以與其它器件組合使用，進行大氣成分探測、地球表面覆蓋等方面的研究。

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